Referência Completa


Título: Crescimento de monocristais utilizando a liga 'PB IND 1-X' 'SN IND X' 'TE' através do método Bridgman
Autor: Sandro Aparecido Baldacim
Programa: Engenharia Aeronáutica e Mecânica
Área de Concentração: Materiais e Processos de Fabricação
Orientadores : Carlos Alberto Guimarães Pagnano
  Carlos de Moura Neto
Ano de Publicação : 1995
Curso : Mestrado Acadêmico
Assuntos : Crescimento de cristais
t Monocristais
t Método de Bridgman
t Física
t Materiais
Resumo : Foram crescidos monocristais semicondutores Pb1-xSnxTe através do Método Bridgman. Selecionou-se a liga Telureto de Chumbo-Estanho por apresentar banda de energia do tipo direto da ordem de 0,30 eV, permitindo operação no intervalo de 3-30 mm, ou seja, ideal lna fabricação de detectores fotovoltáicos para a operação na região do infravermelho terma (8-14 mm). As análises obtidas por microscopia óptica, microscopia eletrônica de varredura e medidas de raios-x indicaram que os resultados obtidos concordaram com os existentes na literatura, verificando-se, nos cristais crescidos, a presença de alta homogeneidade na sua composição e uma baixa densidade de defeitos. Através do diagrama de fases da liga Pb1-xSnxTe, pode-se observar que o soluto SnTe é rejeitado a partir da interface sólido/líquido na solidificação, formando uma camada enriquecida de soluto. Devido à presença da gravidade, o soluto acumulado na interface tende a se redistribuir uniformemente na fase líquida através da convecção, uma vez que o soluto SnTe é menos denso que o solvente PbTe. Como resultado, a distribuição final de soluto tende a ser acumulativa, aproximando da equação de Scheil, sendo verificado e comprovado através de análise de espectrometria por dispersão de energia (EDS), com o auxílio de microscopia eletrônica de varredura (MEV).
Data de Defesa : 01/07/1995
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